VLSI-Testing
Veranstaltungs-Nr
L.048.25005/ L.048.92027
Veranstaltungstyp
Vorlesung V2 + Übung Ü2
Leistungspunkte
6
Zeitmodus
- Sommersemester
Zeit und Ort
Informationen zum Veranstaltungsort und –zeit entnehmen Sie bitte PAUL
Kurzbeschreibung
Die Vorlesung „VLSI Testing“ befasst sich mit Techniken zur Erkennung von Hardwarefehlern in mikroelektronischen Schaltungen. Es werden Algorithmen zur Erzeugung von Testdaten und zur Auswertung von Testantworten sowie Hardware-Strukturen für das Design for Test (DFT) und die On-Chip-Testimplementierung (BIST) vorgestellt.
Inhalt
- Fehlermodelle
- Testbarkeit und Design for Test (DFT)
- Logik und Fehlersimulation
- Automatic Test Pattern Generation (ATPG)
- Built-in self-test (BIST mit Test Data Compression und Test Response Compaction
- Memory Test
Voraussetzungen
- Vorlesung “Digital Design”
