In modernen digitalen Kommunikationssystemen und breitbandigen Messgeräten sind Hochgeschwindigkeits‑Breitband‑Analog-Digital-Wandler (ADCs) zentrale Komponenten. Ultrabreitband‑ADCs nutzen zeitversetztes Abtasten (Time-Interleaving), wodurch sich sehr hohe Abtastraten von über 100 GS/s erreichen lassen. In solchen ADCs wird die analoge Eingangsbandbreite durch die Abtaster begrenzt, und auch deren Linearität bestimmt typischerweise die Gesamtlinearität des ADC. Die IHC‑Abtastmethode (Integrate-and-Hold Circuit) kombiniert hohe Bandbreite mit ausgezeichneter Linearität. Dieser Chip, basierend auf einem stromgesteuerten IHC, bietet eine 1‑dB‑Großsignalbandbreite von 70 GHz sowie eine SFDR von 41 dBc bei 9,9 GHz und ermöglicht zudem eine einstellbare Bandbreite. Dieser Abtaster hielt den Rekord für die höchste Großsignalbandbreite im Vergleich zu allen bis dahin veröffentlichten Abtastern und hat auch heute noch die höchste Großsignalbandbreite unter IHC-Abtastern.

Chipfläche: 1.0mm x 0.9mm

Technologie: 130nm SiGe:C BiCMOS IHP (G2)

Referenzen

L. Wu and J. C. Scheytt, "Analysis and Design of a Charge Sampler With 70-GHz 1-dB Bandwidth in 130-nm SiGe BiCMOS," in IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, vol. 68, no. 9, pp. 3668-3681, Sept. 2021.

L. Wu, M. Weizel and J. C. Scheytt, "70 GHz Large-signal Bandwidth Sampler Using Current-mode Integrate-and-Hold Circuit in 130 nm SiGe BiCMOS Technology," 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), Singapore, 2019, pp. 1697-1699.