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Schmitz, Joachim;Fockel, Markus:

Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien.

In: Tag des Systems Engineering 2017, Nov 2017, Gesellschaft für Systems Engineering e.V.

Bibtex

@inproceedings{hniid=9657,
author = {Schmitz, Joachim and Fockel, Markus},
title = {Systemmodelle als Schl{\"u}ssel zu durchg{\"a}ngigen XIL-Testszenarien},
booktitle = { Tag des Systems Engineering 2017},
publisher = {Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V.},
month = nov,
year = {2017},
}

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Permalink

https://www.hni.uni-paderborn.de/pub/9657